MACROVUE-P – Scanning Acoustic Microscope per grandi superfici
Il MACROVUE-P è un microscopio acustico a scansione (SAM) progettato per l’ispezione non distruttiva di campioni di grandi dimensioni e applicazioni industriali avanzate.
Sviluppato da PVA TePla OKOS, il sistema combina un’area di scansione estremamente ampia, alte frequenze operative e massima flessibilità di configurazione, rendendolo ideale per ambienti produttivi, laboratori di ricerca e controllo qualità.
Applicazioni principali
- Ispezione non distruttiva di componenti elettronici e semiconduttori di grande formato
- Analisi di delaminazioni, voids, cricche e difetti interni
- Controllo qualità di moduli, pannelli e assemblaggi multilayer
- Analisi di materiali compositi, bonding e incapsulamenti
- Misure di spessore (THK) e Time-of-Flight (TOF) su grandi superfici
Caratteristiche chiave
- Sistema industriale per grandi campioni
- Campo di scansione: da 600 × 600 mm fino a 2500 × 1300 mm
- Trasduttori supportati: 1 MHz – 230 MHz
- Pulser-Receiver: 1 – 500 MHz
- ADC / Digitizer: 8-bit, 1 – 12 GHz
- Vasche in acrilico o acciaio
- Barriere di sicurezza con tende luminose
- Opzione enclosure retraibile
- Sistema operativo: Windows 11 Pro
